Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F21%3A00552955" target="_blank" >RIV/68378271:_____/21:00552955 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/060327011/publication/US10914628B2?q=US10914628B2" target="_blank" >https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/060327011/publication/US10914628B2?q=US10914628B2</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof
Popis výsledku v původním jazyce
The present invention concerns an apparatus for spectral and intensity profile characterization comprising: a diffractive element a beam block (3) attached to the diffractive element, the beam block (3) being positioned so as to block the passage of the direct incoming beam (1) which is not incident on the diffractive element a device for translation of the beam block (3) and the diffractive element reflective element (4) fixed detector (5) positioned on the axis of the incoming beam (1). The invention also concerns use and a method thereof. Such a compact system provides application in the field of spectrometry and diagnostics of the beam intensity profile, especially in the area of XUV and soft X-rays.n
Název v anglickém jazyce
Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof
Popis výsledku anglicky
The present invention concerns an apparatus for spectral and intensity profile characterization comprising: a diffractive element a beam block (3) attached to the diffractive element, the beam block (3) being positioned so as to block the passage of the direct incoming beam (1) which is not incident on the diffractive element a device for translation of the beam block (3) and the diffractive element reflective element (4) fixed detector (5) positioned on the axis of the incoming beam (1). The invention also concerns use and a method thereof. Such a compact system provides application in the field of spectrometry and diagnostics of the beam intensity profile, especially in the area of XUV and soft X-rays.n
Klasifikace
Druh
P - Patent
CEP obor
—
OECD FORD obor
10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2021
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
US10914628B2
Vydavatel
US001 -
Název vydavatele
United States Patent and Trademark Office (USPTO)
Místo vydání
Alexandria
Stát vydání
US - Spojené státy americké
Datum přijetí
9. 2. 2021
Název vlastníka
Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence