Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Anisotropy of 3D Columnar Coatings in Mid-Infrared Spectral Range

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F21%3A00554109" target="_blank" >RIV/68378271:_____/21:00554109 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://hdl.handle.net/11104/0328748" target="_blank" >http://hdl.handle.net/11104/0328748</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.3390/nano11123247" target="_blank" >10.3390/nano11123247</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Anisotropy of 3D Columnar Coatings in Mid-Infrared Spectral Range

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Polarisation analysis in the mid-infrared fingerprint region was carried out on thin (∼1 μm) Si and SiO2 films evaporated via glancing angle deposition (GLAD) method at 70∘ to the normal. Synchrotron-based infrared microspectroscopic measurements were carried out on the Infrared Microspectroscopy (IRM) beamline at Australian Synchrotron. Specific absorption bands, particularly Si-O-Si stretching vibration, was found to follow the angular dependence of ∼cos2θ, consistent with the absorption anisotropy. This unexpected anisotropy stems from the enhanced absorption in nano-crevices, which have orientation following the cos2θ angular dependence as revealed by Fourier transforming the image of the surface of 3D columnar films and numerical modeling of light field enhancement by sub-wavelength nano-crevices.

  • Název v anglickém jazyce

    Anisotropy of 3D Columnar Coatings in Mid-Infrared Spectral Range

  • Popis výsledku anglicky

    Polarisation analysis in the mid-infrared fingerprint region was carried out on thin (∼1 μm) Si and SiO2 films evaporated via glancing angle deposition (GLAD) method at 70∘ to the normal. Synchrotron-based infrared microspectroscopic measurements were carried out on the Infrared Microspectroscopy (IRM) beamline at Australian Synchrotron. Specific absorption bands, particularly Si-O-Si stretching vibration, was found to follow the angular dependence of ∼cos2θ, consistent with the absorption anisotropy. This unexpected anisotropy stems from the enhanced absorption in nano-crevices, which have orientation following the cos2θ angular dependence as revealed by Fourier transforming the image of the surface of 3D columnar films and numerical modeling of light field enhancement by sub-wavelength nano-crevices.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Nanomaterials

  • ISSN

    2079-4991

  • e-ISSN

    2079-4991

  • Svazek periodika

    11

  • Číslo periodika v rámci svazku

    12

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    14

  • Strana od-do

    3247

  • Kód UT WoS článku

    000737052800001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85120086858