Ghosts in irradiated trench isolated LGADs
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F25%3A00637554" target="_blank" >RIV/68378271:_____/25:00637554 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1088/1748-0221/20/07/C07015" target="_blank" >https://doi.org/10.1088/1748-0221/20/07/C07015</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/20/07/C07015" target="_blank" >10.1088/1748-0221/20/07/C07015</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Ghosts in irradiated trench isolated LGADs
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper we present the results from the study on the self-induced (ghost) signalobserved in the neutrons irradiated trench-isolated Low Gain Avalanche Diodes (TI-LGADs). This isextension of the previous research on non-irradiated TI-LGADs where an extraordinary large signalwas generated without external stimulation (by laser) above a certain bias threshold. Here, thefindings related to the impact of the radiation-induced defects and temperature on the ghostsignals is discussed. In addition, comparison of double trench (2TR) LGADs with single trench(1TR) LGADs and standard p-type-intrinsic-n-type diodes (PINs) demonstrates the influence ofthe trenches configuration and gain layer on the ghost phenomenon.
Název v anglickém jazyce
Ghosts in irradiated trench isolated LGADs
Popis výsledku anglicky
In this paper we present the results from the study on the self-induced (ghost) signalobserved in the neutrons irradiated trench-isolated Low Gain Avalanche Diodes (TI-LGADs). This isextension of the previous research on non-irradiated TI-LGADs where an extraordinary large signalwas generated without external stimulation (by laser) above a certain bias threshold. Here, thefindings related to the impact of the radiation-induced defects and temperature on the ghostsignals is discussed. In addition, comparison of double trench (2TR) LGADs with single trench(1TR) LGADs and standard p-type-intrinsic-n-type diodes (PINs) demonstrates the influence ofthe trenches configuration and gain layer on the ghost phenomenon.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10303 - Particles and field physics
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/EH22_008%2F0004632" target="_blank" >EH22_008/0004632: Výzkum základních stavebních kamenů hmoty s využitím špičkových technologií</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2025
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Instrumentation
ISSN
1748-0221
e-ISSN
1748-0221
Svazek periodika
20
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
C07015
Kód UT WoS článku
001526617800001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-105009868112