Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Impedance spectroscopy of doped ZnO thin films deposited by PLD

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F25%3A00639575" target="_blank" >RIV/68378271:_____/25:00639575 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Impedance spectroscopy of doped ZnO thin films deposited by PLD

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this study, we focused on exploring the impact of dopants on ZnO thin films grown by Pulsed Laser Deposition (PLD) on sapphire substrates for potential photodetector applications. Photothermal deflection spectroscopy (PDS) was used to investigate sub-bandgap absorption features and Urbach energy, shedding light on the density of states and structural disorder within the films. Furthermore, photoluminescence (PL) analysis supported the PDS results by showing variations in emission characteristics related to Indium doping. Impedance spectroscopy was then utilized to delve into the electrical behavior of the ZnO films, employing equivalent circuit models to extract crucial parameters like carrier concentration and mobility. Our findings revealed notable changes in optical properties with varying Indium concentration, suggesting a shift in electronic structure and defect states. This integrated approach provided a thorough understanding of the optoelectronic features of ZnO films, indicating that optimized Indium doping could improve photoresponse and charge transport, positioning ZnO as a promising material for advanced photodetector technologies.

  • Název v anglickém jazyce

    Impedance spectroscopy of doped ZnO thin films deposited by PLD

  • Popis výsledku anglicky

    In this study, we focused on exploring the impact of dopants on ZnO thin films grown by Pulsed Laser Deposition (PLD) on sapphire substrates for potential photodetector applications. Photothermal deflection spectroscopy (PDS) was used to investigate sub-bandgap absorption features and Urbach energy, shedding light on the density of states and structural disorder within the films. Furthermore, photoluminescence (PL) analysis supported the PDS results by showing variations in emission characteristics related to Indium doping. Impedance spectroscopy was then utilized to delve into the electrical behavior of the ZnO films, employing equivalent circuit models to extract crucial parameters like carrier concentration and mobility. Our findings revealed notable changes in optical properties with varying Indium concentration, suggesting a shift in electronic structure and defect states. This integrated approach provided a thorough understanding of the optoelectronic features of ZnO films, indicating that optimized Indium doping could improve photoresponse and charge transport, positioning ZnO as a promising material for advanced photodetector technologies.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů