Optical, electrical and surface properties of bare and Al-doped nanocrystalline ZnO thin films prepared by pulsed laser deposition on interdigital electrodes
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F25%3A00641225" target="_blank" >RIV/68378271:_____/25:00641225 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/25:00645641
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optical, electrical and surface properties of bare and Al-doped nanocrystalline ZnO thin films prepared by pulsed laser deposition on interdigital electrodes
Popis výsledku v původním jazyce
Nominally undoped and Al-doped nanocrystalline ZnO thin films were deposited by pulsed laser deposition (PLD) on commercial gold-based interdigitated electrodes (IDEs). Surface morphology and structure were characterized using Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM), combining Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM) to perform spatially correlated measurements. PLD resulted in the formation of larger crystals in thicker ZnO layers, while Al doping only slightly affected grain size. Optical and optoelectronic properties were investigated by photothermal deflection (PDS) and photocurrent spectroscopy (PCS).
Název v anglickém jazyce
Optical, electrical and surface properties of bare and Al-doped nanocrystalline ZnO thin films prepared by pulsed laser deposition on interdigital electrodes
Popis výsledku anglicky
Nominally undoped and Al-doped nanocrystalline ZnO thin films were deposited by pulsed laser deposition (PLD) on commercial gold-based interdigitated electrodes (IDEs). Surface morphology and structure were characterized using Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM), combining Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM) to perform spatially correlated measurements. PLD resulted in the formation of larger crystals in thicker ZnO layers, while Al doping only slightly affected grain size. Optical and optoelectronic properties were investigated by photothermal deflection (PDS) and photocurrent spectroscopy (PCS).
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2025
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů