Preparation and analysis of multilayer metal- dielectric systems by PVD methods

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F25%3A00644472" target="_blank" >RIV/68378271:_____/25:00644472 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Preparation and analysis of multilayer metal- dielectric systems by PVD methods

Popis výsledku v původním jazyce

To develop the use of hydrogen technologies in the energy sector, it is necessary to ensure their safety by developing high-quality hydrogen sensors. In this work, two principles of optical sensors exploiting metal-dielectric interface phenomena in multilayer thin film structures are investigated, specifically the combination of a thin silver layer with a very thin palladium layer for excitation of the surface plasmon-polariton and the combination of silver, a dielectric intermediate layer and a very thin palladium layer for excitation of the waveguide mode. The samples were prepared by Magnetron Sputtering and Ionized Jet Deposition methods. The analysis of the samples was carried out using ellipsometry, Attenuated Total Reflection method, atomic force microscopy and computer simulations.

Název v anglickém jazyce

Preparation and analysis of multilayer metal- dielectric systems by PVD methods

Popis výsledku anglicky

To develop the use of hydrogen technologies in the energy sector, it is necessary to ensure their safety by developing high-quality hydrogen sensors. In this work, two principles of optical sensors exploiting metal-dielectric interface phenomena in multilayer thin film structures are investigated, specifically the combination of a thin silver layer with a very thin palladium layer for excitation of the surface plasmon-polariton and the combination of silver, a dielectric intermediate layer and a very thin palladium layer for excitation of the waveguide mode. The samples were prepared by Magnetron Sputtering and Ionized Jet Deposition methods. The analysis of the samples was carried out using ellipsometry, Attenuated Total Reflection method, atomic force microscopy and computer simulations.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2025

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Sborník příspěvků 14. studentské vědecké konference fyziky pevných látek, fotoniky a materiálů

ISBN

978-80-01-07499-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

42-47

Název nakladatele

České vysoké učení technické v Praze

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Byňov

Datum konání akce

23. 9. 2025

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—