X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378297%3A_____%2F23%3A00567887" target="_blank" >RIV/68378297:_____/23:00567887 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1" target="_blank" >https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses

Popis výsledku v původním jazyce

RTG profilometer targets the inspection of a layered structure deposited onto a massive substrate. The investigated object is irradiated by a planar, sharp X-ray beam passing over the surface at an acute angle. The scattered and XRF photons are recorded by a pinhole camera equipped with a semiconductor pixelated detector. Measurement of the layer thicknesses with micrometric precision is obtained by analyzing changes in the signal produced at the sharp edge of the X-ray beam. The device primarily targets the investigation of medieval wooden panel paintings based on polychromy but it can more general.

Název v anglickém jazyce

X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses

Popis výsledku anglicky

RTG profilometer targets the inspection of a layered structure deposited onto a massive substrate. The investigated object is irradiated by a planar, sharp X-ray beam passing over the surface at an acute angle. The scattered and XRF photons are recorded by a pinhole camera equipped with a semiconductor pixelated detector. Measurement of the layer thicknesses with micrometric precision is obtained by analyzing changes in the signal produced at the sharp edge of the X-ray beam. The device primarily targets the investigation of medieval wooden panel paintings based on polychromy but it can more general.

Druh

P - Patent

CEP obor

—

OECD FORD obor

20305 - Nuclear related engineering; (nuclear physics to be 1.3);

Projekt

<a href="/cs/project/EF16_019%2F0000766" target="_blank" >EF16_019/0000766: Inženýrské aplikace fyziky mikrosvěta</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Číslo patentu nebo vzoru

EP3828534

Vydavatel

EPO_1 -

Název vydavatele

European Patent Office

Místo vydání

Munich, The Hague, Berlin, Vienna, Brussels

Stát vydání

—

Datum přijetí

4. 1. 2023

Název vlastníka

Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.

Způsob využití

A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

Druh možnosti využití

A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence