Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Laboratorní RTG profilometr pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury pomocí ostré hrany plochého svazku

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F19%3A00337365" target="_blank" >RIV/68407700:21670/19:00337365 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68378297:_____/19:00518610

  • Výsledek na webu

    <a href="http://hdl.handle.net/11104/0303715" target="_blank" >http://hdl.handle.net/11104/0303715</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Laboratorní RTG profilometr pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury pomocí ostré hrany plochého svazku

  • Popis výsledku v původním jazyce

    RTG profilometr je určen pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury ležící na substrátu. Zkoumaný objekt je ozařován rovinným a ostrým RTG svazkem , který dopadá na povrch pod velmi ostrým úhlem. Rozptýlené a fluorescenční fotony jsou zaznamenávány dirkovou kamerou osazenou polovodičovým pixelovým detektorem. Tloušťky vrstev jsou měřeny s mikrometrickou přesností díky analýze signálu, vzniklého na ostré hraně RTG svazku. Zařízení je primárně určeno pro zkoumání polychromie středověkých deskových maleb, může být ale využito i obecněji.

  • Název v anglickém jazyce

    Laboratory RTG milometer devoted for non-destructive inspection of layered structure utilizing sharp edge planar beam

  • Popis výsledku anglicky

    RTG profilometer targets the inspection of a layered structure deposited onto a massive substrate. The investigated object is irradiated by a planar, sharp X-ray beam passing over the surface at an acute angle. The scattered and XRF photons are recorded by a pinhole camera equipped with a semiconductor pixelated detector. Measurement of the layer thicknesses with micrometric precision is obtained by analyzing changes in the signal produced at the sharp edge of the X-ray beam. The device primarily targets the investigation of medieval wooden panel paintings based on polychromy but it can more general.

Klasifikace

  • Druh

    G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20501 - Materials engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/DG18P02OVV006" target="_blank" >DG18P02OVV006: Mobilní zařízení pro zobrazování a analýzu vrstevnaté malby a polychromie děl starého umění</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2019

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    NAKI006_PROFILOMETR

  • Číselná identifikace

    DG18P02OVV006-FVZ-profilometr

  • Technické parametry

    Funkční vzorek je využíván pracovišti ÚTAM AV ČR a ÚTEF ČVUT.

  • Ekonomické parametry

    Umožňuje rentgenová měření, fluorescenční zobrazování, vytváření digitalizovaných 3D modelů, splňuje funkční a ekonomické podmínky malosériové výroby

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    68407700

  • Název vlastníka

    oddělení fyzikálních aplikací a technologií

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    V - Výsledek je využíván vlastníkem

  • Požadavek na licenční poplatek

    N - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem

    http://hdl.handle.net/11104/0303715