Strain sensing on steel surfaces using vacuum packaged MEMS resonators
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21110%2F10%3A00190393" target="_blank" >RIV/68407700:21110/10:00190393 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://elsevier.com/locate/procedia" target="_blank" >http://elsevier.com/locate/procedia</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.proeng.2010.09.383" target="_blank" >10.1016/j.proeng.2010.09.383</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Strain sensing on steel surfaces using vacuum packaged MEMS resonators
Popis výsledku v původním jazyce
The paper presents a technology for strain sensing on steel using resonant MEMS packaged in vacuum. For this purpose, a custom sensor fabrication technology and a novel vacuum packaging technique have been developed. The MEMS sensors have been fabricatedby surface micromachining of thick (15 um) Silicon On Insulator substrates with heavily doped handle layers (= 0.005 cm). Using this process, Double-Ended Tuning Fork (DETF) parallel-plate resonators with reduced coupling gaps (less than 1 um) have beenfabricated, using a high-performance Deep Reactive Ion Etching performed on submicrometric submicrometer features realized by near-UV lithography combined with a maskless line narrowing technique. The devices have been bonded to a thin steel bar by epoxy glue, packaged in vacuum and tested by applying strain to the bar, showing good tolerances to packaging parasitics, measurement reversibility, and strain sensitivity of 10 Hz/u?.
Název v anglickém jazyce
Strain sensing on steel surfaces using vacuum packaged MEMS resonators
Popis výsledku anglicky
The paper presents a technology for strain sensing on steel using resonant MEMS packaged in vacuum. For this purpose, a custom sensor fabrication technology and a novel vacuum packaging technique have been developed. The MEMS sensors have been fabricatedby surface micromachining of thick (15 um) Silicon On Insulator substrates with heavily doped handle layers (= 0.005 cm). Using this process, Double-Ended Tuning Fork (DETF) parallel-plate resonators with reduced coupling gaps (less than 1 um) have beenfabricated, using a high-performance Deep Reactive Ion Etching performed on submicrometric submicrometer features realized by near-UV lithography combined with a maskless line narrowing technique. The devices have been bonded to a thin steel bar by epoxy glue, packaged in vacuum and tested by applying strain to the bar, showing good tolerances to packaging parasitics, measurement reversibility, and strain sensitivity of 10 Hz/u?.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JM - Inženýrské stavitelství
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA103%2F09%2F1600" target="_blank" >GA103/09/1600: Výzkum monitorovacích metod mikro-deformací ostění podzemních staveb (metra)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Procedia Engineering
ISSN
1877-7058
e-ISSN
—
Svazek periodika
5
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1426-1429
Kód UT WoS článku
000287162400351
EID výsledku v databázi Scopus
—