Není k dispozici

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F04%3A02102196" target="_blank" >RIV/68407700:21220/04:02102196 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Low Emergy Electron Elastic Reflection from Solid Surfaces

Popis výsledku v původním jazyce

Using our Monte-Carlo (MC) code, we calculated the ratio of the coefficients of elastic reflection of electrons from Si, SiO2 and Au to those of Cu and Al in the electron energy range 0.2 - 1.0 and 1.5 keV (Au-Cu), respectively. The electron scattering was simulated by a single scattering model. For the MC calculations, we compared the elastic differential cross-sections calculated using a static field approximation with relativistic partial wave analysis on either the Thomas-Fermi-Dirac potential of free atoms (TFD model) or the Hartree-Fock-Wigner-Seitz (muffin-tin) potential of atoms in the solid state (HFWS model). The MC data were compared with the experimental values. For both models, reasonably good agreement for Si-Cu and SiO2-Cu systems was found. In the Au-Cu system, better agreement was achieved using the TFD model. The addition of C in a surface interaction layer of 2-5 nm improves the agreement between simulated and experimental values for the Si-Al and Si-SiO2 systems.

Název v anglickém jazyce

Low Emergy Electron Elastic Reflection from Solid Surfaces

Popis výsledku anglicky

Using our Monte-Carlo (MC) code, we calculated the ratio of the coefficients of elastic reflection of electrons from Si, SiO2 and Au to those of Cu and Al in the electron energy range 0.2 - 1.0 and 1.5 keV (Au-Cu), respectively. The electron scattering was simulated by a single scattering model. For the MC calculations, we compared the elastic differential cross-sections calculated using a static field approximation with relativistic partial wave analysis on either the Thomas-Fermi-Dirac potential of free atoms (TFD model) or the Hartree-Fock-Wigner-Seitz (muffin-tin) potential of atoms in the solid state (HFWS model). The MC data were compared with the experimental values. For both models, reasonably good agreement for Si-Cu and SiO2-Cu systems was found. In the Au-Cu system, better agreement was achieved using the TFD model. The addition of C in a surface interaction layer of 2-5 nm improves the agreement between simulated and experimental values for the Si-Al and Si-SiO2 systems.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BB - Aplikovaná statistika, operační výzkum

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F02%2F0237" target="_blank" >GA202/02/0237: Elektronový transport při površích pevných látek</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Surface Science

ISSN

0039-6028

e-ISSN

—

Svazek periodika

566-568

Číslo periodika v rámci svazku

5

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

1206-1210

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—