Způsob automatického bezdotykového stanovení emisivity povrchu a zařízení k provádění tohoto způsobu
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F15%3A00230346" target="_blank" >RIV/68407700:21220/15:00230346 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1953785&lan=cs&s_majs=&s_puvo=&s_naze=&s_anot=" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1953785&lan=cs&s_majs=&s_puvo=&s_naze=&s_anot=</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Způsob automatického bezdotykového stanovení emisivity povrchu a zařízení k provádění tohoto způsobu
Popis výsledku v původním jazyce
Vynález se týká způsobu automatického bezdotykového stanovení emisivity povrchu při měření teplotního pole objektu IČT kamerou, kdy se IČT kamerou změří zdánlivá povrchová teplota objektu bez a při ozáření objektu dodatečným zdrojem IČ záření a z rozdílu změřených hodnot zdánlivých teplot se určí emisivita povrchu objektu. Dále se vynález týká zařízení k provádění uvedeného způsobu, které je tvořeno IČT kamerou (1) a dodatečným zdrojem (2) IČ záření pokrývající spektrální rozsah IČT kamery (1) a s intenzitou IČ záření, která je dostatečná na to, aby záření při odrazu od měřeného povrchu (3) vytvořila na oblastech, jejichž emisivita má být určena, dostatečný rozdíl zdánlivých teplot oproti měření, bez použití tohoto dodatečného zdroje (2) IČ záření.
Název v anglickém jazyce
Method of automatic contactless determination of surface emissivity and apparatus for making the same
Popis výsledku anglicky
The present invention relates to a method of automatic contactless determination of surface emissivity when measuring a temperature field of an object by infrared camera wherein the method is characterized in that first a apparent surface temperature of the object is measured without irradiating thereof by an infrared radiation, then the temperature thereof is measured when the object is irradiated by an additional source of the infrared radiation. Subsequently, the difference of the measured values of the apparent temperatures is a base for the determination of the object surface emissivity. The invention further relates to an apparatus for making the above-described method, said apparatus consisting of an infrared camera (1) and an additional source (2) of the infrared radiation covering a spectral range of the infrared camera (1) and with infrared radiation intensity being sufficient for the creation of a sufficient difference of the apparent temperatures on regions for which the emissivity is to be determined when reflected from the measured surface (3) if compared with measurement without the use of this additional source (2) of the infrared radiation.
Klasifikace
Druh
P - Patent
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
305219
Vydavatel
CZ001 -
Název vydavatele
Industrial Property Office
Místo vydání
Prague
Stát vydání
CZ - Česká republika
Datum přijetí
6. 5. 2015
Název vlastníka
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta strojní, Ústav přístrojové a řídící techniky, Praha 6; Workswell s.r.o., Praha 6 - Bubeneč
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence