Smoothing Gate Capacitance Models for CMOS Radio Frequency and Microwave Integrated Circuits CAD
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F02%3A03089420" target="_blank" >RIV/68407700:21230/02:03089420 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Smoothing Gate Capacitance Models for CMOS Radio Frequency and Microwave Integrated Circuits CAD
Popis výsledku v původním jazyce
Convergence problems for both voltage- and charge- controlled models of MOSFET gate capacitances are often a limiting factor of CAD tools. In paper, an idea of exponential smoothing of model discontinuities is proposed. The method is demonstrated by smoothing the discontinuity of Meyer's model at zero drain-source voltage. The updated model is tested on flip-flop circuit by an advanced algorithm.
Název v anglickém jazyce
Smoothing Gate Capacitance Models for CMOS Radio Frequency and Microwave Integrated Circuits CAD
Popis výsledku anglicky
Convergence problems for both voltage- and charge- controlled models of MOSFET gate capacitances are often a limiting factor of CAD tools. In paper, an idea of exponential smoothing of model discontinuities is proposed. The method is demonstrated by smoothing the discontinuity of Meyer's model at zero drain-source voltage. The updated model is tested on flip-flop circuit by an advanced algorithm.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F01%2F0432" target="_blank" >GA102/01/0432: Symbolické, semisymbolické a numerické metody analýzy, návrhu a optimalizace elektrických obvodů</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
IMS 2002 - International Microwave Symposium Digest
ISBN
0-7803-7239-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
605-608
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway
Místo konání akce
Seattle, Washington
Datum konání akce
2. 6. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—