Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Stochastic Test Method Application for 16-Bit Reference ADC Device

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F03%3A03088357" target="_blank" >RIV/68407700:21230/03:03088357 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Stochastic Test Method Application for 16-Bit Reference ADC Device

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Stochastic methods for ADC (analogue-to-digital converter) tests have been developed to enable testing of precise AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal. A transportable high stable reference AD device wasdesigned and realised for a comparison of systems for testing a dynamic quality of ADCs or AD modules using mainly those standard (deterministic) test methods. However, the stochastic test methods require different conditions and test arrangement due tolarge number of samples that has to be acquired during the stochastic test. This article shows results of the test and their comparison with standard tests performed on the same ADC.

  • Název v anglickém jazyce

    Stochastic Test Method Application for 16-Bit Reference ADC Device

  • Popis výsledku anglicky

    Stochastic methods for ADC (analogue-to-digital converter) tests have been developed to enable testing of precise AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal. A transportable high stable reference AD device wasdesigned and realised for a comparison of systems for testing a dynamic quality of ADCs or AD modules using mainly those standard (deterministic) test methods. However, the stochastic test methods require different conditions and test arrangement due tolarge number of samples that has to be acquired during the stochastic test. This article shows results of the test and their comparison with standard tests performed on the same ADC.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GP102%2F01%2FD087" target="_blank" >GP102/01/D087: Nové metody měření parametrů digitalizátorů pomocí stochastických signálů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Measurement 2003 - Proceedings of the 4th International Conference on Measurement

  • ISBN

    80-967402-6-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    95-98

  • Název nakladatele

    Slovak Academy of Sciences, Institute of Measurement Science

  • Místo vydání

    Bratislava

  • Místo konání akce

    Smolenice

  • Datum konání akce

    15. 6. 2003

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku