Testing of High Resolution ADCs with Deterministic and Stochastic Signals

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F03%3A03087732" target="_blank" >RIV/68407700:21230/03:03087732 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Testing of High Resolution ADCs with Deterministic and Stochastic Signals

Popis výsledku v původním jazyce

High-linearity and high-resolution AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal can be tested by means of stochastic test methods. Histogram test can use various input signals and allows use noise as the input signal. To overcome difficulties related to generation of large-scale uniformly distributed stochastic signal, a method based on superposition of Gaussian noises with equidistantly spaced DC shifts has been proposed and theoretical analysis has been provided there. In current development stage, it can host the following 16-bits ADCs with SAR transfer technology.

Název v anglickém jazyce

Testing of High Resolution ADCs with Deterministic and Stochastic Signals

Popis výsledku anglicky

High-linearity and high-resolution AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal can be tested by means of stochastic test methods. Histogram test can use various input signals and allows use noise as the input signal. To overcome difficulties related to generation of large-scale uniformly distributed stochastic signal, a method based on superposition of Gaussian noises with equidistantly spaced DC shifts has been proposed and theoretical analysis has been provided there. In current development stage, it can host the following 16-bits ADCs with SAR transfer technology.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

ETW 2003

ISBN

0-7695-1908-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

19-20

Název nakladatele

IEEE Computer Society TTTC

Místo vydání

Maastricht

Místo konání akce

Maastricht

Datum konání akce

25. 5. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—