Application of Noise Signal for Testing High Resolution ADCs
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F03%3A03088460" target="_blank" >RIV/68407700:21230/03:03088460 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Application of Noise Signal for Testing High Resolution ADCs
Popis výsledku v původním jazyce
High-linearity and high-resolution AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal [1] can be tested by means of stochastic test methods Histogram test can use various input signals and principally allows use noiseas the input signal. To overcome difficulties related to generation of large-scale uniformly distributed stochastic signal, a method based on superposition of Gaussian noises with equidistantly spaced DC shifts has been proposed and theoretical analysishas been provided there [2]. In current development stage, it can host the following 16-bits ADCs with SAR transfer technology.
Název v anglickém jazyce
Application of Noise Signal for Testing High Resolution ADCs
Popis výsledku anglicky
High-linearity and high-resolution AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal [1] can be tested by means of stochastic test methods Histogram test can use various input signals and principally allows use noiseas the input signal. To overcome difficulties related to generation of large-scale uniformly distributed stochastic signal, a method based on superposition of Gaussian noises with equidistantly spaced DC shifts has been proposed and theoretical analysishas been provided there [2]. In current development stage, it can host the following 16-bits ADCs with SAR transfer technology.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Electronic Devices and Systems 03 - Proceedings
ISBN
80-214-2452-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
152-157
Název nakladatele
VUT FEI, Ústav mikroelektroniky
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
9. 9. 2003
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—