Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Není k dispozici

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F04%3A03096113" target="_blank" >RIV/68407700:21230/04:03096113 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Step Gauss Test - New Method for Testing of ADCs

  • Popis výsledku v původním jazyce

    High-linearity and high-resolution AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal [1] can be tested by means of stochastic test methods. Histogram test can use various input signals and principally allows use noise as the input signal. To overcome difficulties related to generation of large-scale uniformly distributed stochastic signal, a method based on superposition of Gaussian noises with equidistantly spaced DC shifts has been proposed and theoretical analysis has been provided in [2]. In current development stage, it can host the following 16-bits ADCs with SAR transfer technology.

  • Název v anglickém jazyce

    Step Gauss Test - New Method for Testing of ADCs

  • Popis výsledku anglicky

    High-linearity and high-resolution AD converters that are difficult to test by standard methods using deterministic signal [1] can be tested by means of stochastic test methods. Histogram test can use various input signals and principally allows use noise as the input signal. To overcome difficulties related to generation of large-scale uniformly distributed stochastic signal, a method based on superposition of Gaussian noises with equidistantly spaced DC shifts has been proposed and theoretical analysis has been provided in [2]. In current development stage, it can host the following 16-bits ADCs with SAR transfer technology.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2004

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

  • ISBN

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    127-130

  • Název nakladatele

    Fraunhofer Institut Integrierte Schaltungen

  • Místo vydání

    Dresden

  • Místo konání akce

    Dresden

  • Datum konání akce

    29. 2. 2004

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku