Není k dispozici

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F04%3A03099824" target="_blank" >RIV/68407700:21230/04:03099824 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Frequency Spectrum Correction Test - Practical Experience

Popis výsledku v původním jazyce

The main problem of the high resolution ADC testing within the frequency range hundreds of kHz to several MHz is the spectral purity of a testing signal. Commercially produced low-distortion generators have the spectral purity sufficient for testing of 16 bits ADCs only up to frequencies of tens of kHz; at higher frequencies the spectral purity of generators is generally worse. Some improvement can bring signal filtering. However, most of the LC filters use coils with ferromagnetic cores for the frequency range up to several hundreds of kHz, which can cause a rise of odd harmonic components. Nevertheless, these components can be measured and subtracted from the spectrum calculated from ADC output data. In the ideal case, only the frequency spectrum corresponding to the ADC non-linearity remains. An ADC measurement system was designed and built for the verification of this method in the frequency range 200 kHz to 1 MHz.

Název v anglickém jazyce

Frequency Spectrum Correction Test - Practical Experience

Popis výsledku anglicky

The main problem of the high resolution ADC testing within the frequency range hundreds of kHz to several MHz is the spectral purity of a testing signal. Commercially produced low-distortion generators have the spectral purity sufficient for testing of 16 bits ADCs only up to frequencies of tens of kHz; at higher frequencies the spectral purity of generators is generally worse. Some improvement can bring signal filtering. However, most of the LC filters use coils with ferromagnetic cores for the frequency range up to several hundreds of kHz, which can cause a rise of odd harmonic components. Nevertheless, these components can be measured and subtracted from the spectrum calculated from ADC output data. In the ideal case, only the frequency spectrum corresponding to the ADC non-linearity remains. An ADC measurement system was designed and built for the verification of this method in the frequency range 200 kHz to 1 MHz.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GP102%2F01%2FD087" target="_blank" >GP102/01/D087: Nové metody měření parametrů digitalizátorů pomocí stochastických signálů</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

9th European Workshop on ADC Modelling and Testing

ISBN

960-254-645-X

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

881-886

Název nakladatele

IMEKO TC-4

Místo vydání

Athens

Místo konání akce

Athens

Datum konání akce

29. 9. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—