Vliv fázového šumu testovacího signálu při testování AČ převodníků s vysokým rozlišením

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F07%3A03129817" target="_blank" >RIV/68407700:21230/07:03129817 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing

Popis výsledku v původním jazyce

The testing of high-resolution ADCs based on the majority of standardized methods requires pure sine-wave test signal. The reason of the requirement for signal's purity is that measured ADC parameters are potentially influenced by test signal imperfections such as distortion and wideband noise but also its short term frequency changes (phase noise). The influence of signal distortion and noise has already been the subject of many contributions; an analysis of phase noise, its effect on test results andpossibilities of its suppression or correction are the subject of this paper. The validity of phase noise analysis and of proposed methods is also demonstrated on experimental measurements.

Název v anglickém jazyce

Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing

Popis výsledku anglicky

The testing of high-resolution ADCs based on the majority of standardized methods requires pure sine-wave test signal. The reason of the requirement for signal's purity is that measured ADC parameters are potentially influenced by test signal imperfections such as distortion and wideband noise but also its short term frequency changes (phase noise). The influence of signal distortion and noise has already been the subject of many contributions; an analysis of phase noise, its effect on test results andpossibilities of its suppression or correction are the subject of this paper. The validity of phase noise analysis and of proposed methods is also demonstrated on experimental measurements.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

IMTC/2007 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings

ISBN

978-1-4244-0588-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Warsaw

Místo konání akce

Warsaw

Datum konání akce

1. 5. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—