Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Zdokonalené hodnocení planárních kalibračních standardů metodou TDR preselekce

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F07%3A03141145" target="_blank" >RIV/68407700:21230/07:03141145 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Improved Evaluatin of Planar Calibration Standards Using the TDR Preselection Method

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Calibration and correction methods for the Vector Network Analyzer (VNA) are based on the fundamental assumption of the constant error model. Unfortunately, this assumption is notsatisfied well for planar calibration standards fabricated by etching technology on soft substrates. An evaluation of the error model is affected expecially by variations in the manufacturing process and also by the reproducibility of an assembly. In this paper, we propose error minimizatin by selecting the best combination ofavailable calibration standards based on time domain reflection (TDR) measurement, which can also be obtained by the fourier transformation from the measured S-parameters. The proposed method was verified experimentally using short, open, load and thru (SOLT) standards fabricated on an FR4 laminate substrate which achieves the essential reduction of the measurement error in the frequency range up to 15 GHz.

  • Název v anglickém jazyce

    Improved Evaluatin of Planar Calibration Standards Using the TDR Preselection Method

  • Popis výsledku anglicky

    Calibration and correction methods for the Vector Network Analyzer (VNA) are based on the fundamental assumption of the constant error model. Unfortunately, this assumption is notsatisfied well for planar calibration standards fabricated by etching technology on soft substrates. An evaluation of the error model is affected expecially by variations in the manufacturing process and also by the reproducibility of an assembly. In this paper, we propose error minimizatin by selecting the best combination ofavailable calibration standards based on time domain reflection (TDR) measurement, which can also be obtained by the fourier transformation from the measured S-parameters. The proposed method was verified experimentally using short, open, load and thru (SOLT) standards fabricated on an FR4 laminate substrate which achieves the essential reduction of the measurement error in the frequency range up to 15 GHz.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Acta Polytechnica

  • ISSN

    1210-2709

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    47

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4-5

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    103-106

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus