Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Vylepšené hodnocení planárních kalibračních standardů pomocí TDR předvýběrové metody

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F06%3A03125272" target="_blank" >RIV/68407700:21230/06:03125272 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Improved Evaluation of Planar Calibration Standards Using TDR Preselection Method

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Calibration and correction methods for Vector Network Analyzer (VNA) are based on the fundamental assumption of constant error model, which is independent of connected calibration standards and/or devices under test (DUT). Unfortunately, this assumptionis not satisfied well for planar calibration standards fabricated by etching technology on soft substrates. An evaluation of the error etching technology on soft substrates. An evaluation of the error model is affected expecially with a variation of themanufacturing process and also with a reproducibillity of an assembly. In this paper, we propose error minimazation using selection of the best combination of available calibration standards based on time-domain reflection (TDR) measuerment. The proposedmethod was verified experimentally using short, open, load and thru (SOLT) standards fabricated on FR4 laminate substrate getting essential reduction of the measurement error in frequency range up to 15 GHz.

  • Název v anglickém jazyce

    Improved Evaluation of Planar Calibration Standards Using TDR Preselection Method

  • Popis výsledku anglicky

    Calibration and correction methods for Vector Network Analyzer (VNA) are based on the fundamental assumption of constant error model, which is independent of connected calibration standards and/or devices under test (DUT). Unfortunately, this assumptionis not satisfied well for planar calibration standards fabricated by etching technology on soft substrates. An evaluation of the error etching technology on soft substrates. An evaluation of the error model is affected expecially with a variation of themanufacturing process and also with a reproducibillity of an assembly. In this paper, we propose error minimazation using selection of the best combination of available calibration standards based on time-domain reflection (TDR) measuerment. The proposedmethod was verified experimentally using short, open, load and thru (SOLT) standards fabricated on FR4 laminate substrate getting essential reduction of the measurement error in frequency range up to 15 GHz.

Klasifikace

  • Druh

    A - Audiovizuální tvorba

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • ISBN

  • Místo vydání

    Piscataway

  • Název nakladatele resp. objednatele

  • Verze

  • Identifikační číslo nosiče

    6050 140 R H 36706