Selecting Sinewave Test Frequencies for Dynamic ADC Tests
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00169462" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00169462 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Selecting Sinewave Test Frequencies for Dynamic ADC Tests
Popis výsledku v původním jazyce
The precise selection of the input and sampling frequencies, and selection of the record length are very important for dynamic testing of AD converters and modules by sine wave signal. IEEE Std 1241-2000 [1] and Std 1057-2007 [2] provide standardizationin the ADC testing. Selection of optimal input testing signal frequency under these standards is resolved separately for applied deterministic testing methods. To compare results between each test method, it is necessary to use identical test conditionsinclusive of identical input testing signal frequency. That is why an algorithm of input testing signal frequency selection was developed to allow both the sine-fit and the DFT methods to be applied.
Název v anglickém jazyce
Selecting Sinewave Test Frequencies for Dynamic ADC Tests
Popis výsledku anglicky
The precise selection of the input and sampling frequencies, and selection of the record length are very important for dynamic testing of AD converters and modules by sine wave signal. IEEE Std 1241-2000 [1] and Std 1057-2007 [2] provide standardizationin the ADC testing. Selection of optimal input testing signal frequency under these standards is resolved separately for applied deterministic testing methods. To compare results between each test method, it is necessary to use identical test conditionsinclusive of identical input testing signal frequency. That is why an algorithm of input testing signal frequency selection was developed to allow both the sine-fit and the DFT methods to be applied.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
IMEKO Symposium TC-4, TC-19 & IWADC Instrumentation for the ICT Area
ISBN
978-80-553-0424-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Název nakladatele
Technical University of Košice
Místo vydání
Košice
Místo konání akce
Košice
Datum konání akce
8. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—