Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Selecting Sinewave Test Frequencies for Dynamic ADC Tests

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00169462" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00169462 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Selecting Sinewave Test Frequencies for Dynamic ADC Tests

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The precise selection of the input and sampling frequencies, and selection of the record length are very important for dynamic testing of AD converters and modules by sine wave signal. IEEE Std 1241-2000 [1] and Std 1057-2007 [2] provide standardizationin the ADC testing. Selection of optimal input testing signal frequency under these standards is resolved separately for applied deterministic testing methods. To compare results between each test method, it is necessary to use identical test conditionsinclusive of identical input testing signal frequency. That is why an algorithm of input testing signal frequency selection was developed to allow both the sine-fit and the DFT methods to be applied.

  • Název v anglickém jazyce

    Selecting Sinewave Test Frequencies for Dynamic ADC Tests

  • Popis výsledku anglicky

    The precise selection of the input and sampling frequencies, and selection of the record length are very important for dynamic testing of AD converters and modules by sine wave signal. IEEE Std 1241-2000 [1] and Std 1057-2007 [2] provide standardizationin the ADC testing. Selection of optimal input testing signal frequency under these standards is resolved separately for applied deterministic testing methods. To compare results between each test method, it is necessary to use identical test conditionsinclusive of identical input testing signal frequency. That is why an algorithm of input testing signal frequency selection was developed to allow both the sine-fit and the DFT methods to be applied.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    IMEKO Symposium TC-4, TC-19 & IWADC Instrumentation for the ICT Area

  • ISBN

    978-80-553-0424-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Technical University of Košice

  • Místo vydání

    Košice

  • Místo konání akce

    Košice

  • Datum konání akce

    8. 9. 2010

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku