The Influence of Envirnment on Properties of Thick Film Components
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00171379" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00171379 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The Influence of Envirnment on Properties of Thick Film Components
Popis výsledku v původním jazyce
The work is focused on investigation of behavior of thick film resistors. The changes of parameters of thick film samples exposed to accelerated ageing were analyzed. The samples were exposed in three types of environment during relatively long time. Thesamples with different sizes of thick film resistors were prepared. Conductive and resistive structures were deposited on corundum substrates by screen printing. The silver polymer paste for conductive layer and the carbon black polymer paste for resistive layer were used. The resistance and non linearity of current-voltage characteristic were measured. Non linearity was measured as distortion of sinusoidal AC powering signal.
Název v anglickém jazyce
The Influence of Envirnment on Properties of Thick Film Components
Popis výsledku anglicky
The work is focused on investigation of behavior of thick film resistors. The changes of parameters of thick film samples exposed to accelerated ageing were analyzed. The samples were exposed in three types of environment during relatively long time. Thesamples with different sizes of thick film resistors were prepared. Conductive and resistive structures were deposited on corundum substrates by screen printing. The silver polymer paste for conductive layer and the carbon black polymer paste for resistive layer were used. The resistance and non linearity of current-voltage characteristic were measured. Non linearity was measured as distortion of sinusoidal AC powering signal.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
EDS 2010 Electronic Devices and Systems
ISBN
978-80-214-4138-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
VUT v Brně, FEI, Ústav mikroelektroniky
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
1. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—