Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The Contribution of Contact in Non-linearity of CV Characteristic of Thick Film Resistor

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00183831" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00183831 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The Contribution of Contact in Non-linearity of CV Characteristic of Thick Film Resistor

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The work deals with thick film resistors and their properties. The structures of resistive and conductive thick film layers were prepared by screen-printing by polymer thick film pastes. Samples were exposed to accelerated ageing in environment with enhanced temperature and humidity. Tested sample consist of thick film resistors with different width and length. The non-linearity of current-voltage characteristic of resistors was measured. The measured resistor include not only resistive layer but also interface between conductive and resistive layers. The influence such interface is analyzed.

  • Název v anglickém jazyce

    The Contribution of Contact in Non-linearity of CV Characteristic of Thick Film Resistor

  • Popis výsledku anglicky

    The work deals with thick film resistors and their properties. The structures of resistive and conductive thick film layers were prepared by screen-printing by polymer thick film pastes. Samples were exposed to accelerated ageing in environment with enhanced temperature and humidity. Tested sample consist of thick film resistors with different width and length. The non-linearity of current-voltage characteristic of resistors was measured. The measured resistor include not only resistive layer but also interface between conductive and resistive layers. The influence such interface is analyzed.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    34th International Spring Seminar on Electronics Technology

  • ISBN

    978-1-4577-2111-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    327-330

  • Název nakladatele

    Technical University of Košice

  • Místo vydání

    Košice

  • Místo konání akce

    Tatranská Lomnica

  • Datum konání akce

    11. 5. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku