The Contribution of Contact in Non-linearity of CV Characteristic of Thick Film Resistor
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00183831" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00183831 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The Contribution of Contact in Non-linearity of CV Characteristic of Thick Film Resistor
Popis výsledku v původním jazyce
The work deals with thick film resistors and their properties. The structures of resistive and conductive thick film layers were prepared by screen-printing by polymer thick film pastes. Samples were exposed to accelerated ageing in environment with enhanced temperature and humidity. Tested sample consist of thick film resistors with different width and length. The non-linearity of current-voltage characteristic of resistors was measured. The measured resistor include not only resistive layer but also interface between conductive and resistive layers. The influence such interface is analyzed.
Název v anglickém jazyce
The Contribution of Contact in Non-linearity of CV Characteristic of Thick Film Resistor
Popis výsledku anglicky
The work deals with thick film resistors and their properties. The structures of resistive and conductive thick film layers were prepared by screen-printing by polymer thick film pastes. Samples were exposed to accelerated ageing in environment with enhanced temperature and humidity. Tested sample consist of thick film resistors with different width and length. The non-linearity of current-voltage characteristic of resistors was measured. The measured resistor include not only resistive layer but also interface between conductive and resistive layers. The influence such interface is analyzed.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
34th International Spring Seminar on Electronics Technology
ISBN
978-1-4577-2111-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
327-330
Název nakladatele
Technical University of Košice
Místo vydání
Košice
Místo konání akce
Tatranská Lomnica
Datum konání akce
11. 5. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—