Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The Quality of Contact of Conductive and Resistive Thick Film Layers

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00183833" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00183833 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The Quality of Contact of Conductive and Resistive Thick Film Layers

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The presented work is concerned with problems of contact of thick film layers. The samples with structures of two different layers were prepared. Conductive and resistive path were deposited by polymer thick film pastes by Screen-print technology. Silverpaste was used for conductive layers and carbon black paste for resistive layers. The contact resistance in interface of two layers represents parameter for quality evaluation. The three-wire method was used for measurement of contact of conductive andresistive layers. The influence of combination of different materials of conductive and resistive layers on contact quality was investigated.

  • Název v anglickém jazyce

    The Quality of Contact of Conductive and Resistive Thick Film Layers

  • Popis výsledku anglicky

    The presented work is concerned with problems of contact of thick film layers. The samples with structures of two different layers were prepared. Conductive and resistive path were deposited by polymer thick film pastes by Screen-print technology. Silverpaste was used for conductive layers and carbon black paste for resistive layers. The contact resistance in interface of two layers represents parameter for quality evaluation. The three-wire method was used for measurement of contact of conductive andresistive layers. The influence of combination of different materials of conductive and resistive layers on contact quality was investigated.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Electronic Devices and Systems, IMAPS CS International Conference 2011 Proceedings

  • ISBN

    978-80-214-4303-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    68-72

  • Název nakladatele

    VUT v Brně, FEKT

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    22. 6. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku