Fast Near-Field Characterization of Integrated Circuits Electromagnetic Interference
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00180310" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00180310 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Fast Near-Field Characterization of Integrated Circuits Electromagnetic Interference
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes method for speed improvement of electromagnetic near-filed scanning. Using the technique described in this paper both high spatial resolution and high speed of measurement can be achieved. Some applications of near-field scanning arepresented and discussed. Near-field scan technique is used for measurement of magnetic field distribution above a passive structure and for analysis of electromagnetic emission of integrated circuit operating in different regimes. Results show good reliability of presented method and its effectiveness for investigation of electromagnetic interference in integrated structures.
Název v anglickém jazyce
Fast Near-Field Characterization of Integrated Circuits Electromagnetic Interference
Popis výsledku anglicky
This paper describes method for speed improvement of electromagnetic near-filed scanning. Using the technique described in this paper both high spatial resolution and high speed of measurement can be achieved. Some applications of near-field scanning arepresented and discussed. Near-field scan technique is used for measurement of magnetic field distribution above a passive structure and for analysis of electromagnetic emission of integrated circuit operating in different regimes. Results show good reliability of presented method and its effectiveness for investigation of electromagnetic interference in integrated structures.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of 21st International Conference Radioelektronika 2011
ISBN
978-1-61284-322-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
311-314
Název nakladatele
VUT v Brně, FEKT, Ústav radioelektroniky
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
19. 4. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—