Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Investigation of Reverse Bias Safe Operation Area of High-Power Fast Recovery Diodes

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00194608" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00194608 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Investigation of Reverse Bias Safe Operation Area of High-Power Fast Recovery Diodes

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The destruction limits of fast recovery power diodes under low and high currents are decisive for their reliable application. The former is limited by snap-off of current at the tail time of reverse recovery, the latter by dynamic avalanche. In this respect, we have investigated the diode which has been designed using the optimized anode and cathode doping profiles for reliable operation having nominal breakdown voltage of 4.5 kV. In this paper, we experimentally demonstrate the destruction limits for snap-off under hard turn-off conditions.

  • Název v anglickém jazyce

    Investigation of Reverse Bias Safe Operation Area of High-Power Fast Recovery Diodes

  • Popis výsledku anglicky

    The destruction limits of fast recovery power diodes under low and high currents are decisive for their reliable application. The former is limited by snap-off of current at the tail time of reverse recovery, the latter by dynamic avalanche. In this respect, we have investigated the diode which has been designed using the optimized anode and cathode doping profiles for reliable operation having nominal breakdown voltage of 4.5 kV. In this paper, we experimentally demonstrate the destruction limits for snap-off under hard turn-off conditions.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    POSTER 2011 - 15th International Student Conference on Electrical Engineering

  • ISBN

    978-80-01-04806-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    1-2

  • Název nakladatele

    ČVUT, Fakulta elektrotechnická

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    12. 5. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku