Elektromagnetické vazby ve vnitřních strukturách integrovaných obvodů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F13%3A00212671" target="_blank" >RIV/68407700:21230/13:00212671 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.elektrorevue.cz/" target="_blank" >http://www.elektrorevue.cz/</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Elektromagnetické vazby ve vnitřních strukturách integrovaných obvodů

Popis výsledku v původním jazyce

Hlavním cílem tohoto článku je řešení elektromagnetické kompatibility ve vnitřních strukturách integrovaných obvodů a mikrosystémů. Elektromagnetická kompatibilita slouží jako míra vzájemné koexistence několika elektronických systémů ve společném prostředí bez nežádoucích elektromagnetických vazeb, které by mohly ovlivnit funkci jednotlivých systémů. Mezi spoji v integrovaném obvodu vznikají nežádoucí elektromagnetické vazby. Při šíření signálů po spojích může dojít prostřednictvím parazitních elektromagnetických vazeb k rušení jiných signálových spojů. Tato rušení pak způsobují vznik nahodilých poruch v integrovaných obvodech.

Název v anglickém jazyce

Electromagnetic couplings inside structures of integrated circuits

Popis výsledku anglicky

The main target of the paper was the solution of electromagnetic compatibility in integrated circuits and microsystems. The electromagnetic compatibility serves as a measure for the possibility of co-existence of numerous electronic systems occupying a common environment without unwanted electromagnetic couplings that could interfere with correct functioning of individual systems. Unwanted electromagnetic couplings do appear between leads inside the integrated circuit. During the process of signal propagation along the leads, parasitic electromagnetic couplings can cause interference in other signal leads. Such as interference can result in random disturbances in the integrated circuit.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Elektrorevue

ISSN

1213-1539

e-ISSN

—

Svazek periodika

15

Číslo periodika v rámci svazku

6

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

354-357

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—