Electromagnetic Interference of Integrated Circuit Studied by Near-Filed Scan
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00187260" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00187260 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electromagnetic Interference of Integrated Circuit Studied by Near-Filed Scan
Popis výsledku v původním jazyce
Electromagnetic interferences generated by integrated circuit were investigated by surface scan. Field Gate Programmable Array was chosen for testing purpose, because this type of integrated circuit provides unique opportunity for integrated circuits electromagnetic compatibility testing allowing user to change its functionality without changing package parameters. The tested chip was programmed with several different designs and electromagnetic field above surface was measured and analyzed.
Název v anglickém jazyce
Electromagnetic Interference of Integrated Circuit Studied by Near-Filed Scan
Popis výsledku anglicky
Electromagnetic interferences generated by integrated circuit were investigated by surface scan. Field Gate Programmable Array was chosen for testing purpose, because this type of integrated circuit provides unique opportunity for integrated circuits electromagnetic compatibility testing allowing user to change its functionality without changing package parameters. The tested chip was programmed with several different designs and electromagnetic field above surface was measured and analyzed.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
POSTER 2011 - 15th International Student Conference on Electrical Engineering
ISBN
978-80-01-04806-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1-4
Název nakladatele
ČVUT, Fakulta elektrotechnická
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
12. 5. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—