Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Electromagnetic Interference of Integrated Circuit Studied by Near-Filed Scan

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00187260" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00187260 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Electromagnetic Interference of Integrated Circuit Studied by Near-Filed Scan

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Electromagnetic interferences generated by integrated circuit were investigated by surface scan. Field Gate Programmable Array was chosen for testing purpose, because this type of integrated circuit provides unique opportunity for integrated circuits electromagnetic compatibility testing allowing user to change its functionality without changing package parameters. The tested chip was programmed with several different designs and electromagnetic field above surface was measured and analyzed.

  • Název v anglickém jazyce

    Electromagnetic Interference of Integrated Circuit Studied by Near-Filed Scan

  • Popis výsledku anglicky

    Electromagnetic interferences generated by integrated circuit were investigated by surface scan. Field Gate Programmable Array was chosen for testing purpose, because this type of integrated circuit provides unique opportunity for integrated circuits electromagnetic compatibility testing allowing user to change its functionality without changing package parameters. The tested chip was programmed with several different designs and electromagnetic field above surface was measured and analyzed.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    POSTER 2011 - 15th International Student Conference on Electrical Engineering

  • ISBN

    978-80-01-04806-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1-4

  • Název nakladatele

    ČVUT, Fakulta elektrotechnická

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Prague

  • Datum konání akce

    12. 5. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku