Modelování elektromagnetických vazeb ve spojových soustavách integrovaných obvodů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F14%3A00225236" target="_blank" >RIV/68407700:21230/14:00225236 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.elektrorevue.cz/cz/clanky/kybernetika--automatizace--merici-technika/0/modelovani-elektromagnetickych-vazeb-ve-spojovych-soustavach-integrovanych-obvodu--modeling-of-electromagnetic-couplings-within-connecting-systems-of-integrated-circuits-/" target="_blank" >http://www.elektrorevue.cz/cz/clanky/kybernetika--automatizace--merici-technika/0/modelovani-elektromagnetickych-vazeb-ve-spojovych-soustavach-integrovanych-obvodu--modeling-of-electromagnetic-couplings-within-connecting-systems-of-integrated-circuits-/</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Modelování elektromagnetických vazeb ve spojových soustavách integrovaných obvodů

Popis výsledku v původním jazyce

Spojové soustavy jsou hlavním zdrojem nežádoucích elektromagnetických vazeb ve strukturách integrovaných obvodů. Pro řešení elektromagnetických vazeb je nutné definovat rozložení elektromagnetických polí ve spojové soustavě integrovaného obvodu. Analytické řešení elektromagnetických polí ve spojových soustavách je vhodné pouze pro elementární varianty homogenních vedení. Při řešení reálných variant spojových soustav v integrovaných obvodech je nutné numerické řešení elektromagnetických polí, protože pouze tento přístup umožňuje plně postihnout lokální vlastnosti spojových soustav důležité pro výpočty rozložení elektromagnetických polí.

Název v anglickém jazyce

Modeling of electromagnetic couplings within connecting systems of integrated circuits

Popis výsledku anglicky

The connection system is the principal source of parasitic electromagnetic couplings within integrated circuit structures. In order to solve these electromagnetic couplings, it is necessary to define the distribution of electromagnetic fields in the connection system of each particular integrated circuit. The analytical approach to the solution of electromagnetic fields in connection systems is only suitable for the elementary form of homogeneous lines, however. When solving real situations of connecting systems in integrated circuits, numerical solution of electromagnetic fields must be applied, since only this approach permits to accurately express the local properties of connection systems in terms of electromagnetic field distribution calculations.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/VG20102015015" target="_blank" >VG20102015015: Miniaturní inteligentní analyzační systém koncentrací plynů a škodlivých látek, zejména toxických</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Elektrorevue

ISSN

1213-1539

e-ISSN

—

Svazek periodika

16

Číslo periodika v rámci svazku

6

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

212-218

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—