Charge Pump Design for Use in NVM Device Test and Measurement

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F15%3A00233821" target="_blank" >RIV/68407700:21230/15:00233821 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charge Pump Design for Use in NVM Device Test and Measurement

Popis výsledku v původním jazyce

Today, the emerging technology to fabricate deep-submicron Non-Volatile Memories (NVMs) requires extensive use of efficient methods for measurement and test. A high-voltage (HV) generator must be used to invoke NVM test modes, either placed on-chip or used from external. Our article focuses on the development of the Charge pump, being a core of such high-voltage generator. We consider an on-chip variant for the purpose of NVM measurement and test, the HV generator has to meet several criteria listed above. In our article we will particularly take into account the design criteria for the Charge pump to be used in such HV generator and the ways how to optimize its properties.

Název v anglickém jazyce

Charge Pump Design for Use in NVM Device Test and Measurement

Popis výsledku anglicky

Today, the emerging technology to fabricate deep-submicron Non-Volatile Memories (NVMs) requires extensive use of efficient methods for measurement and test. A high-voltage (HV) generator must be used to invoke NVM test modes, either placed on-chip or used from external. Our article focuses on the development of the Charge pump, being a core of such high-voltage generator. We consider an on-chip variant for the purpose of NVM measurement and test, the HV generator has to meet several criteria listed above. In our article we will particularly take into account the design criteria for the Charge pump to be used in such HV generator and the ways how to optimize its properties.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 10th International Conference on Measurement

ISBN

978-80-969672-9-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

203-206

Název nakladatele

VEDA

Místo vydání

Bratislava

Místo konání akce

Smolenice

Datum konání akce

25. 5. 2015

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—