Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Simulace nábojové pumpy za účelem optimalizace jejích vlastností

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F15%3A00233819" target="_blank" >RIV/68407700:21230/15:00233819 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Simulace nábojové pumpy za účelem optimalizace jejích vlastností

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Současné technologie používané pro výrobu submikronových nonvolatilních pamětí vyžadují silné nasazení prostředků pro měření a testování. Pro aktivaci testovacího režimu je nutný ?vysokonapěťový? generátor, který je buď zabudován na čipu, nebo je připojen z vnějšku. Náš příspěvek se věnuje návrhu nábojové pumpy zabudované do čipu, která představuje jádro vysokonapěťového generátoru. Kritéria, která musí takový vysokonapěťový generátor splňovat, jsou uvedena níže. V našem příspěvku jsou částečně zmíněnai návrhová kritéria pro nábojové pumpy a možnosti, pomocí kterých lze optimalizovat jejich vlastnosti.

  • Název v anglickém jazyce

    Simulation of the charge pump for optimizing its properties

  • Popis výsledku anglicky

    Current technologies used to manufacture submicron volatile memory require strong deployment of means for measuring and testing. To activate the test mode is required "high voltage" generator, which is either incorporated on the chip or attached externally. Our paper focuses on the design charge pump built into the chip, which is the core of the high-voltage generator. The criteria that must comply with such a high-voltage generator, are listed below. In our paper we are partly also mentioned design criteria for the charge pump and the options you can use to optimize their properties.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    V. Letní doktorandské dny 2015

  • ISBN

    978-80-01-05749-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    12-16

  • Název nakladatele

    ČVUT FEL, Katedra teorie obvodů

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    28. 5. 2015

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku