Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Analysis of Evaporation Process of Thin Ni Films by Factorial Experiments and Taguchi Approach

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F17%3A00318189" target="_blank" >RIV/68407700:21230/17:00318189 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=8259866" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=8259866</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/SIITME.2017.8259866" target="_blank" >10.1109/SIITME.2017.8259866</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Analysis of Evaporation Process of Thin Ni Films by Factorial Experiments and Taguchi Approach

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Process of evaporation of thin Ni films has been described using Full factorials experiments and Taguchi approach. Ni film have been evaporated from a tungsten evaporator on glass substrates. The thickness of evaporated films has been monitored in dependence on the mass of evaporated material, on the pressure in the vaccuum bell jar and on the temperature of the substrate. It was found that the dominant influence of the evaporated thickness has the evaporated mass and pressure in the recipient, the influence of the substrate temperature is very low.

  • Název v anglickém jazyce

    Analysis of Evaporation Process of Thin Ni Films by Factorial Experiments and Taguchi Approach

  • Popis výsledku anglicky

    Process of evaporation of thin Ni films has been described using Full factorials experiments and Taguchi approach. Ni film have been evaporated from a tungsten evaporator on glass substrates. The thickness of evaporated films has been monitored in dependence on the mass of evaporated material, on the pressure in the vaccuum bell jar and on the temperature of the substrate. It was found that the dominant influence of the evaporated thickness has the evaporated mass and pressure in the recipient, the influence of the substrate temperature is very low.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    IEEE 23rd International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging

  • ISBN

    978-1-5386-1626-0

  • ISSN

    2641-287X

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    98-101

  • Název nakladatele

    Cavallioti

  • Místo vydání

  • Místo konání akce

    Constanta

  • Datum konání akce

    26. 10. 2017

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000428032300017