Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

An Automated ESD Model Characterization Method

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00325357" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00325357 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.radioeng.cz/info/1-about-the-journal.htm" target="_blank" >https://www.radioeng.cz/info/1-about-the-journal.htm</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.13164/re.2018.0784" target="_blank" >10.13164/re.2018.0784</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    An Automated ESD Model Characterization Method

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Novel automated simulator-independent ESD model characterization method based on Differential evolution and Nelder-Mead Simplex algorithms is presented in this paper. It offers an alternative for time and human-resources demanding manual characterization that is still widely used. The paper also presents stable macro-models of the four most often used snapback-based protection devices in CMOS technologies, i.e., NMOST and three variants of silicon-controlled rectifier structure. These macro-models were used for evaluation of the proposed method and the results are included and discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    An Automated ESD Model Characterization Method

  • Popis výsledku anglicky

    Novel automated simulator-independent ESD model characterization method based on Differential evolution and Nelder-Mead Simplex algorithms is presented in this paper. It offers an alternative for time and human-resources demanding manual characterization that is still widely used. The paper also presents stable macro-models of the four most often used snapback-based protection devices in CMOS technologies, i.e., NMOST and three variants of silicon-controlled rectifier structure. These macro-models were used for evaluation of the proposed method and the results are included and discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Radioengineering

  • ISSN

    1210-2512

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    27

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    12

  • Strana od-do

    784-795

  • Kód UT WoS článku

    000444598500021

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85053295115