Novel Model Calibration Method Based on Differential Evolution Used for SCR Model Fitting
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F13%3A00211979" target="_blank" >RIV/68407700:21230/13:00211979 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2013.6549840" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2013.6549840</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2013.6549840" target="_blank" >10.1109/DDECS.2013.6549840</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Novel Model Calibration Method Based on Differential Evolution Used for SCR Model Fitting
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents the possibility to use modern and very effective optimization algorithm called differential evolutionary optimization algorithm (DEOA) enhanced by Nelder--Mead Simplex algorithm (NMSA) for fully automatic ESD protection model calibration. This novel method requires only TLP measurement of specific protection device for optimal model calibration. Presented approach is currently being actively developed by authors and tested for various ESD protection devices to verify its robustness. It was in past successfully tested on electrostatic discharge (ESD) MOSFET cite{ja2}. Description of used macro-model and novel calibration method along with results of ESD Silicon-controlled rectifier (SCR) macro-model calibration to empirical data are presented.
Název v anglickém jazyce
Novel Model Calibration Method Based on Differential Evolution Used for SCR Model Fitting
Popis výsledku anglicky
This paper presents the possibility to use modern and very effective optimization algorithm called differential evolutionary optimization algorithm (DEOA) enhanced by Nelder--Mead Simplex algorithm (NMSA) for fully automatic ESD protection model calibration. This novel method requires only TLP measurement of specific protection device for optimal model calibration. Presented approach is currently being actively developed by authors and tested for various ESD protection devices to verify its robustness. It was in past successfully tested on electrostatic discharge (ESD) MOSFET cite{ja2}. Description of used macro-model and novel calibration method along with results of ESD Silicon-controlled rectifier (SCR) macro-model calibration to empirical data are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proc. of the 16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
ISBN
978-1-4673-6135-4
ISSN
2334-3133
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
297-298
Název nakladatele
NOVPRESS
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Karlovy Vary
Datum konání akce
8. 4. 2013
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000325168900066