Automated model calibration flow based on Differential Evolution used for ESD MVTSCR model fitting

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F13%3A00211982" target="_blank" >RIV/68407700:21230/13:00211982 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Automated model calibration flow based on Differential Evolution used for ESD MVTSCR model fitting

Popis výsledku v původním jazyce

This paper presents usage of novel automatic model fitting or calibration flow implementing differential evolution (DE) presented in [1] enhanced by Nelder?Mead Simplex algorithm (NMSA) for fully automatic electro-static discharge (ESD) medium-voltage-triggered silicon-controlled rectifier (MVTSCR) model calibration. Presented simulator-independent method based on curve-fitting approach incorporates additional features such as check preventing possible ?deadlock? of the algorithm, user-definable weighting function for increasing significance of specific operation regions of the calibrated models. Results of I-V characteristic fitting of the technology-optimized macro-model of MVTSCR to the piece-wise linear template snapback I-V characteristic are presented.

Název v anglickém jazyce

Automated model calibration flow based on Differential Evolution used for ESD MVTSCR model fitting

Popis výsledku anglicky

This paper presents usage of novel automatic model fitting or calibration flow implementing differential evolution (DE) presented in [1] enhanced by Nelder?Mead Simplex algorithm (NMSA) for fully automatic electro-static discharge (ESD) medium-voltage-triggered silicon-controlled rectifier (MVTSCR) model calibration. Presented simulator-independent method based on curve-fitting approach incorporates additional features such as check preventing possible ?deadlock? of the algorithm, user-definable weighting function for increasing significance of specific operation regions of the calibrated models. Results of I-V characteristic fitting of the technology-optimized macro-model of MVTSCR to the piece-wise linear template snapback I-V characteristic are presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings - Electronic Devices and Systems - EDS '13

ISBN

9788021447547

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Název nakladatele

Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

26. 6. 2013

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—