Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

An Interferometric Sensor for Scanning Microwave Microscopy Application

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00327394" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00327394 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/8617173" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/8617173</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.23919/APMC.2018.8617173" target="_blank" >10.23919/APMC.2018.8617173</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    An Interferometric Sensor for Scanning Microwave Microscopy Application

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The development of an interferometric sensor for scanning microwave microscopy is proposed. The structure is based on the concept of Wilkinson power divider; by using multistage sections of microstrip lines and resistors the operational bandwidth is increased. The optimization of dimension parameters and resistors values is discussed. The sensor was experimentally investigated in frequency band 45 MHz to 26 GHz. 40 times reduction of the reflection coefficient measurement uncertainty compared to standard VNA reflection measurement was achieved.

  • Název v anglickém jazyce

    An Interferometric Sensor for Scanning Microwave Microscopy Application

  • Popis výsledku anglicky

    The development of an interferometric sensor for scanning microwave microscopy is proposed. The structure is based on the concept of Wilkinson power divider; by using multistage sections of microstrip lines and resistors the operational bandwidth is increased. The optimization of dimension parameters and resistors values is discussed. The sensor was experimentally investigated in frequency band 45 MHz to 26 GHz. 40 times reduction of the reflection coefficient measurement uncertainty compared to standard VNA reflection measurement was achieved.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    R - Projekt Ramcoveho programu EK

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2018 Asia-Pacific Microwave Conference Proceedings

  • ISBN

    978-1-5386-2184-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    1232-1234

  • Název nakladatele

    The Institute of Electronics Information and Communication Engineers of Japan

  • Místo vydání

    Tokio

  • Místo konání akce

    Kyoto

  • Datum konání akce

    6. 12. 2018

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku