X-CHIP-03: SOI MAPS radiation sensor with hit-counting and ADC mode
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00334362" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00334362 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21340/18:00334362
Výsledek na webu
<a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/8824681" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/8824681</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2018.8824681" target="_blank" >10.1109/NSSMIC.2018.8824681</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
X-CHIP-03: SOI MAPS radiation sensor with hit-counting and ADC mode
Popis výsledku v původním jazyce
This work presents a novel MAPS sensor X-CHIP-03 developed for soft X-ray radiation imaging and advanced dosimetry. X-CHIP-03 was fabricated in a 180 nm SOI CMOS technology. The presented sensor contains a matrix of 64 x 64 pixels with 60 μm pixel pitch. Advantage of this technology is possibility to integrate complex electronics in the pixels while preserving 100% fill factor for radiation detection. Novel feature of this SOI MAPS sensor is capability to operate the sensor in the hit-counting mode or in the ADC mode. The hit counting mode is primarily designed for radiation imaging and the ADC mode is intended for measurement of energy deposited in each pixel. The effective (linear) dynamic range is from 5 keV to 20 keV of the energy deposited in the sensitive layer. The first measurement results are presented.
Název v anglickém jazyce
X-CHIP-03: SOI MAPS radiation sensor with hit-counting and ADC mode
Popis výsledku anglicky
This work presents a novel MAPS sensor X-CHIP-03 developed for soft X-ray radiation imaging and advanced dosimetry. X-CHIP-03 was fabricated in a 180 nm SOI CMOS technology. The presented sensor contains a matrix of 64 x 64 pixels with 60 μm pixel pitch. Advantage of this technology is possibility to integrate complex electronics in the pixels while preserving 100% fill factor for radiation detection. Novel feature of this SOI MAPS sensor is capability to operate the sensor in the hit-counting mode or in the ADC mode. The hit counting mode is primarily designed for radiation imaging and the ADC mode is intended for measurement of energy deposited in each pixel. The effective (linear) dynamic range is from 5 keV to 20 keV of the energy deposited in the sensitive layer. The first measurement results are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference Proceedings (NSS/MIC)
ISBN
978-1-5386-8494-8
ISSN
—
e-ISSN
2577-0829
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.
Místo vydání
—
Místo konání akce
Sydney
Datum konání akce
10. 11. 2018
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—