METHOD OF EXAMINING A SAMPLE IN A SCANNING TUNNELING MICROSCOPE USING TIP-TO-SAMPLE DISTANCE VARIATIONS
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F25%3A00383068" target="_blank" >RIV/68407700:21230/25:00383068 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/077447661/publication/US12253538B2?q=pn%3DUS12253538B2" target="_blank" >https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/077447661/publication/US12253538B2?q=pn%3DUS12253538B2</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
METHOD OF EXAMINING A SAMPLE IN A SCANNING TUNNELING MICROSCOPE USING TIP-TO-SAMPLE DISTANCE VARIATIONS
Popis výsledku v původním jazyce
The present invention relates to simultaneous constant height and constant current measurements which can be typically performed in a scanning tunneling microscope (STM) or in a combined atomic force microscope/scanning tunneling microscope (AFM/STM) microscope. Simultaneous Local Density of States Topography and potential barrier measurements in these microscopes are also disclosed. ### The patent is exploited by its owner.
Název v anglickém jazyce
METHOD OF EXAMINING A SAMPLE IN A SCANNING TUNNELING MICROSCOPE USING TIP-TO-SAMPLE DISTANCE VARIATIONS
Popis výsledku anglicky
The present invention relates to simultaneous constant height and constant current measurements which can be typically performed in a scanning tunneling microscope (STM) or in a combined atomic force microscope/scanning tunneling microscope (AFM/STM) microscope. Simultaneous Local Density of States Topography and potential barrier measurements in these microscopes are also disclosed. ### The patent is exploited by its owner.
Klasifikace
Druh
P - Patent
CEP obor
—
OECD FORD obor
21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/TP01010066" target="_blank" >TP01010066: ProoFOND</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2025
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
US12253538
Vydavatel
US001 -
Název vydavatele
United States Patent and Trademark Office (USPTO)
Místo vydání
Alexandria
Stát vydání
US - Spojené státy americké
Datum přijetí
18. 3. 2025
Název vlastníka
Czech Technical University in Prague
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence