Measurement System for Source Radiant Pattern Intensity Distribution

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F99%3A03018849" target="_blank" >RIV/68407700:21230/99:03018849 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Measurement System for Source Radiant Pattern Intensity Distribution

Popis výsledku v původním jazyce

This contribution describes the simple system for automatic measurement of optoelectronic sensors. The system is based on application of microcontrollers communicating via serial interface RS232 with a PC. The software of a system is based on programs working in HP VEE environment and has been designed for the laboratory exercises.

Název v anglickém jazyce

Measurement System for Source Radiant Pattern Intensity Distribution

Popis výsledku anglicky

This contribution describes the simple system for automatic measurement of optoelectronic sensors. The system is based on application of microcontrollers communicating via serial interface RS232 with a PC. The software of a system is based on programs working in HP VEE environment and has been designed for the laboratory exercises.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

1999

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

8th Scientific Conference Theoretical Electrical Engineering and Electrical Measurement

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Department of Theoretical Electrical Engineering and electrical Measurement FEI TU of Košice

Místo vydání

Košice

Místo konání akce

—

Datum konání akce

—

Typ akce podle státní příslušnosti

—

Kód UT WoS článku

—