Test Pattern Compression Based on Pattern Overlapping and Broadcasting

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F11%3A00184355" target="_blank" >RIV/68407700:21240/11:00184355 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5952372&isnumber=5952357" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5952372&isnumber=5952357</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/IWECMS.2011.5952372" target="_blank" >10.1109/IWECMS.2011.5952372</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Test Pattern Compression Based on Pattern Overlapping and Broadcasting

Popis výsledku v původním jazyce

The high test data volume and long test application time are two major concerns for testing scan based circuits. Broadcast-based test compression techniques can reduce both the test data volume and test application time. Pattern overlapping test compression techniques are proven to be highly effective in the test data volume reduction. This paper presents a new test compression and test application approach that combines both the test pattern overlapping technique and the test pattern broadcasting technique. This paper will illustrate that these new techniques are effective in both the test application time and the test data volume reduction.

Název v anglickém jazyce

Test Pattern Compression Based on Pattern Overlapping and Broadcasting

Popis výsledku anglicky

The high test data volume and long test application time are two major concerns for testing scan based circuits. Broadcast-based test compression techniques can reduce both the test data volume and test application time. Pattern overlapping test compression techniques are proven to be highly effective in the test data volume reduction. This paper presents a new test compression and test application approach that combines both the test pattern overlapping technique and the test pattern broadcasting technique. This paper will illustrate that these new techniques are effective in both the test application time and the test data volume reduction.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F09%2F1668" target="_blank" >GA102/09/1668: Zvyšování spolehlivosti a provozuschopnosti v obvodech SoC</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

2011 10th International workshop on Electronics, Control, Measurement and Signals (ECMS)

ISBN

978-1-61284-397-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

1-5

Název nakladatele

IEEE Computer Society Press

Místo vydání

New York

Místo konání akce

Liberec

Datum konání akce

1. 6. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—