Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

EUV záření z laserové plasmy fokusované multifóliovou optikou

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F06%3A04128227" target="_blank" >RIV/68407700:21340/06:04128227 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    EUV radiation from gas-puff laser plasma focused by

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present the recent progress in high intensity micro focused EUV beam generation. Ellipsoidal thin glass foils were used in Multi&#8211;foil optical systems for focusing radiation in 50 eV to 150 eV energy band from gas&#8211;puff laser plasma source.Multifoil optic (MFO) condenser was designed and tested for applications with Xe laser plasma gas&#8211;puff source. High intensity EUV beam focal spot was recorded, analyzed and compared with theoretical results from computer ray&#8211;tracing. Direct EUV lithography using radiation induced decomposition and ablation of TEFLON was studied.

  • Název v anglickém jazyce

    EUV radiation from gas-puff laser plasma focused by

  • Popis výsledku anglicky

    We present the recent progress in high intensity micro focused EUV beam generation. Ellipsoidal thin glass foils were used in Multi&#8211;foil optical systems for focusing radiation in 50 eV to 150 eV energy band from gas&#8211;puff laser plasma source.Multifoil optic (MFO) condenser was designed and tested for applications with Xe laser plasma gas&#8211;puff source. High intensity EUV beam focal spot was recorded, analyzed and compared with theoretical results from computer ray&#8211;tracing. Direct EUV lithography using radiation induced decomposition and ablation of TEFLON was studied.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Advances in X-Ray/EUV Optics, Components, and Applications

  • ISBN

    0-8194-6396-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    "631705-1"-"631705-9"

  • Název nakladatele

    SPIE

  • Místo vydání

    Bellingham

  • Místo konání akce

    San Diego

  • Datum konání akce

    13. 8. 2006

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku