Phase Transition Study of NaNbO3 Thin Films by Spectral Ellipsometry
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F10%3A00166110" target="_blank" >RIV/68407700:21340/10:00166110 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Phase Transition Study of NaNbO3 Thin Films by Spectral Ellipsometry
Popis výsledku v původním jazyce
In this work the thermo-optical properties at the wide temperature range (5-820 K) of sodium niobate NaNbO3 (NN) thin films were investigated by means of the spectroscopic ellipsometry. NN thin films were deposited by the pulsed laser ablation techniqueon Si/SiO2/Ti/Pt/SrRuO3 substrates. Temperature dependence of complex refractive index dispersions and optical bang energy of direct allowed electron transitions were evaluated. Additionally dynamic scans of main ellipsometric angles at several fixed wavelengths of 300, 400, 500 and 635 nm were performed to acquire more detailed temperature dependencies of refractive index and extinction coefficient. Pronounced minima/maxima and substantial jumps in the temperature dependence of complex refractive indexand band gap energy were found and are corresponded to the structural phase transition temperatures of NN single crystals and ceramics. Observed negative thermo-optical effect in NN films is discussed as well.
Název v anglickém jazyce
Phase Transition Study of NaNbO3 Thin Films by Spectral Ellipsometry
Popis výsledku anglicky
In this work the thermo-optical properties at the wide temperature range (5-820 K) of sodium niobate NaNbO3 (NN) thin films were investigated by means of the spectroscopic ellipsometry. NN thin films were deposited by the pulsed laser ablation techniqueon Si/SiO2/Ti/Pt/SrRuO3 substrates. Temperature dependence of complex refractive index dispersions and optical bang energy of direct allowed electron transitions were evaluated. Additionally dynamic scans of main ellipsometric angles at several fixed wavelengths of 300, 400, 500 and 635 nm were performed to acquire more detailed temperature dependencies of refractive index and extinction coefficient. Pronounced minima/maxima and substantial jumps in the temperature dependence of complex refractive indexand band gap energy were found and are corresponded to the structural phase transition temperatures of NN single crystals and ceramics. Observed negative thermo-optical effect in NN films is discussed as well.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
V - Vyzkumna aktivita podporovana z jinych verejnych zdroju
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Workshop 2010
ISBN
978-80-01-04513-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
České vysoké učení technické v Praze
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
22. 2. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—