Measurement of Characteristics of a XUV Capillary Laser
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F11%3A00187080" target="_blank" >RIV/68407700:21340/11:00187080 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://www.spie.org" target="_blank" >http://www.spie.org</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.886758" target="_blank" >10.1117/12.886758</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Measurement of Characteristics of a XUV Capillary Laser
Popis výsledku v původním jazyce
This work concerns in measurement of characteristics of a XUV argon capillary laser, which was developed at the Czech Technical University in Prague, Faculty of Nuclear Sciences and Physical Engineering. This laser generates at 46.9 nm in Ne - like Ar. Young's double pinhole experiment was realized to estimate spatial coherence of this laser system and to detect the beam profile. We used double pinhole drilled by Ti:saphire laser with four different pinhole separations. pinhole separations were 50 mu m,60 mu m and 150 mu m. Apertures had oval shape with diameter 20 - 52 mu m. Interference structure was detected XUV CCD camera with resolution 512x512 pixels. This work contains also short overview about sources of XUV radiation.
Název v anglickém jazyce
Measurement of Characteristics of a XUV Capillary Laser
Popis výsledku anglicky
This work concerns in measurement of characteristics of a XUV argon capillary laser, which was developed at the Czech Technical University in Prague, Faculty of Nuclear Sciences and Physical Engineering. This laser generates at 46.9 nm in Ne - like Ar. Young's double pinhole experiment was realized to estimate spatial coherence of this laser system and to detect the beam profile. We used double pinhole drilled by Ti:saphire laser with four different pinhole separations. pinhole separations were 50 mu m,60 mu m and 150 mu m. Apertures had oval shape with diameter 20 - 52 mu m. Interference structure was detected XUV CCD camera with resolution 512x512 pixels. This work contains also short overview about sources of XUV radiation.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
EUV AND X-RAY OPTICS: SYNERGY BETWEEN LABORATORY AND SPACE II
ISBN
9780819486660
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
"80760L"
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham (stát Washington)
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
20. 4. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
000297594500018