Tepelně tvarované křemíkové plátky pro přesnou rentgenovou optiku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F12%3A00192535" target="_blank" >RIV/68407700:21340/12:00192535 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/60461373:22310/12:43894772
Výsledek na webu
<a href="http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1766137&lan=cs" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1766137&lan=cs</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Tepelně tvarované křemíkové plátky pro přesnou rentgenovou optiku
Popis výsledku v původním jazyce
Technické řešení se týká tepelně tvarovaných křemíkových plátků pro přesnou rentgenovou optiku, které jsou zhotoveny z monokrystalických křemíkových plátků, jsou přesně vytvarovány do optického tvaru a jejich funkční odrazová plocha vykazuje vysokou optickou kvalitu.
Název v anglickém jazyce
Thermally formed silicon plates for precise X-ray optics
Popis výsledku anglicky
The technical solution describes thermal formimg of silicon plates for precise X-ray optics made from monocrystal silicon wafers precisely formed into optical shape and featuring optical quality of the functional reflective surface.
Klasifikace
Druh
F<sub>uzit</sub> - Užitný vzor
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/IAAX01220701" target="_blank" >IAAX01220701: Materiálové a rentgenooptické vlastnosti tvarovaných křemíkových plátků</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
23543
Vydavatel
CZ001 -
Název vydavatele
Industrial Property Office
Místo vydání
Prague
Stát vydání
CZ - Česká republika
Datum přijetí
—
Název vlastníka
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská; Vysoká škola chemicko-technologická v Praze
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)