Evaluation of the Timepix chip radiation hardness using a Co-60 source

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F13%3A00212859" target="_blank" >RIV/68407700:21340/13:00212859 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168900213009340" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168900213009340</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2013.06.088" target="_blank" >10.1016/j.nima.2013.06.088</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Evaluation of the Timepix chip radiation hardness using a Co-60 source

Popis výsledku v původním jazyce

Radiation damage is a widely studied topic for its effects on detectors and supporting electronics in various practical applications. Radiation hardness and stability of the detector properties are critical parameters in applications of semiconductor radiation detectors. The 0.25 mu m CMOS technology used in fabrication of the Medipix2 and Timepix chips provides high degree of inherent radiation hardness. We present the study of operational, detection and signal processing properties of the irradiated Timepix chip exposed to a high-flux Co-60 source reaching the operational limits of the chip.

Název v anglickém jazyce

Evaluation of the Timepix chip radiation hardness using a Co-60 source

Popis výsledku anglicky

Radiation damage is a widely studied topic for its effects on detectors and supporting electronics in various practical applications. Radiation hardness and stability of the detector properties are critical parameters in applications of semiconductor radiation detectors. The 0.25 mu m CMOS technology used in fabrication of the Medipix2 and Timepix chips provides high degree of inherent radiation hardness. We present the study of operational, detection and signal processing properties of the irradiated Timepix chip exposed to a high-flux Co-60 source reaching the operational limits of the chip.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

DL - Jaderné odpady, radioaktivní znečištění a kontrola

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/TE01020069" target="_blank" >TE01020069: Progresívní detekční systémy ionizujícího záření</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A, Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

ISSN

0168-9002

e-ISSN

—

Svazek periodika

732

Číslo periodika v rámci svazku

Dec

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

501-505

Kód UT WoS článku

000327490400112

EID výsledku v databázi Scopus

—