Soustava pro měření mřížkového parametru zejména na monokrystalických vzorcích a polykrystalických materiálech

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F15%3A00240024" target="_blank" >RIV/68407700:21340/15:00240024 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=10091657&lan=cs&s_majs=&s_puvo=&s_naze=&s_anot=" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=10091657&lan=cs&s_majs=&s_puvo=&s_naze=&s_anot=</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Soustava pro měření mřížkového parametru zejména na monokrystalických vzorcích a polykrystalických materiálech

Popis výsledku v původním jazyce

Uvedená soustava obsahuje držák pro upevnění analyzovaného vzorku, nad kterým je na prvním otočném ramenu umístěn zdroj rentgenového záření tvořený rentgenkou. Dále soustava obsahuje druhé otočné rameno pro umístění proporcionálního bodového detektoru, které má stejný střed otáčení jako má první otočné rameno. Na druhém otočném ramenu jsou ve směru záření difraktovaného od analyzovaného vzorku umístěny paralelní Sollerovy clony v kombinaci s modifikovatelným monochromátorem. Modifikovatelný monochromátor je tvořen přípravkem, který je umístěn za Sollerovými clonami a je k druhému otočnému ramenu připevněn pomocí upínacího držáku. Přípravek je opatřen příčně v ose (x) polohovatelným držákem, ve kterém je umístěn proporcionální bodový detektor. Na základně přípravku je umístěn výškově v ose (z) polohovatelný držák, ve kterém je uložen goniometr s výměnným monochromatizujícím krystalem. Tento goniometr je naklopitelný v rovině kolmé na osu goniometru v rozmezí .+-. 15°, přičemž osy parale

Název v anglickém jazyce

System for measuring grid parameter, especially on single crystal samples and polycrystalline materials

Popis výsledku anglicky

In the present invention, there is disclosed a system to measure lattice parameter, especially on single crystal samples and polycrystalline materials, the system comprising a holder for fastening a sample to be analyzed, wherein an X-ray source being represented by an X-ray tube is disposed on a first pivoted arm. Further, the system comprises a second pivoted arm for mounting thereon a proportional spot detector, having the same center of rotation as the first pivoted arm. On the second pivoted arm, there are situated in the direction of radiation diffracted from the analyzed sample parallel Soller slits in combination with modified monochromator. The modified monochromator consists of a device, which is situated behind the Soller slits and is fastened to second pivoted arm by means of a clamping holder. The device is provided transversely to the axis (x) with a positioning holder with the proportional spot detector mounted therein. On the device base, there is situated in the axis (

Druh

F_uzit - Užitný vzor

CEP obor

JG - Hutnictví, kovové materiály

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Číslo patentu nebo vzoru

27869

Vydavatel

CZ001 -

Název vydavatele

Industrial Property Office

Místo vydání

Prague

Stát vydání

CZ - Česká republika

Datum přijetí

—

Název vlastníka

České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská, Praha 1, CZ

Způsob využití

A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

Druh možnosti využití

A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence