Soustava pro měření mřížkového parametru zejména na monokrystalických vzorcích a polykrystalických materiálech

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F16%3A00307070" target="_blank" >RIV/68407700:21340/16:00307070 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://isdv.upv.cz/webapp/webapp.pta.detail" target="_blank" >https://isdv.upv.cz/webapp/webapp.pta.detail</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Soustava pro měření mřížkového parametru zejména na monokrystalických vzorcích a polykrystalických materiálech

Popis výsledku v původním jazyce

Uvedená soustava obsahuje držák (2) pro upevnění analyzovaného vzorku (1), nad kterým je na prvním otočném ramenu (3) umístěn zdroj (4) rentgenového záření tvořený rentgenkou. Dále soustava obsahuje druhé otočné rameno (6) pro umístění proporcionálního bodového detektoru (9), které má stejný střed otáčení jako má první otočné rameno (3). Na druhém otočném ramenu (6) jsou ve směru záření difraktovaného od analyzovaného vzorku (1) umístěny paralelní Sollerovy clony (7) v kombinaci s modifikovatelným monochromátorem. Modifikovatelný monochromátor je tvořen přípravkem (8), který je umístěn za Sollerovými clonami (7) a je k druhému otočnému ramenu (6) připevněn pomocí upínacího držáku (8.2). Přípravek (8) je opatřen příčně v ose (x) polohovatelným držákem (8.3), ve kterém je umístěn proporcionální bodový detektor (9). Na základně (8.1) přípravku (8) je umístěn výškově v ose (z) polohovatelný držák (8.4), ve kterém je uložen goniometr (8.5) s výměnným monochromatizujícím krystalem (8.6). Tento goniometr (8.5) je naklopitelný v rovině kolmé na osu goniometru (8.5) v rozmezí .+-. 15°, přičemž osy paralelních Sollerových clon (7) a goniometru (8.5) svírají úhel 65°.

Název v anglickém jazyce

System to measure lattice parameter, especially on single crystal samples and polycrystalline materials

Popis výsledku anglicky

In the present invention, there is disclosed a system to measure lattice parameter, especially on single crystal samples and polycrystalline materials, the system comprising a holder (2) for fastening a sample (1) to be analyzed, wherein an X-ray source (4) being represented by an X-ray tube is disposed on a first pivoted arm (3). Further, the system comprises a second pivoted arm (6) for mounting thereon a proportional spot detector (9), having the same center of rotation as the first pivoted arm (3). On the second pivoted arm (6), there are situated in the direction of radiation diffracted from the analyzed sample (1) parallel Soller slits (7) in combination with modified monochromator. The modified monochromator consists of a device (8), which is situated behind the Soller slits (7) and is fastened to second pivoted arm (6) by means of a clamping holder (8.2). The device (8) is provided transversely to the axis (x) with a positioning holder (8.3) with the proportional spot detector (9) mounted therein. On the device (8) base (8.1), there is situated in the axis (z) another positioning holder (8.4) with a goniometer (8.5) mounted therein, wherein the goniometer (8.5), being provided with an exchangeable monochromatizing crystal (8.6) is inclinable in a plane perpendicular to the goniometer (8.5) axis in the range of +/- 15 degrees, whereby the axes of the parallel Soller slits (7) and the goniometer (8.5) form an angle of 65 degrees.

Druh

P - Patent

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Číslo patentu nebo vzoru

305779

Vydavatel

CZ001 -

Název vydavatele

Industrial Property Office

Místo vydání

Prague

Stát vydání

CZ - Česká republika

Datum přijetí

27. 1. 2016

Název vlastníka

České vysoké učení technické v Praze - Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská , Praha 1, CZ

Způsob využití

A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

Druh možnosti využití

A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence