A study of single event effects induced by heavy charged particles in 180 nm SoI technology

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F18%3A00334359" target="_blank" >RIV/68407700:21340/18:00334359 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/8824677" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/8824677</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2018.8824677" target="_blank" >10.1109/NSSMIC.2018.8824677</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A study of single event effects induced by heavy charged particles in 180 nm SoI technology

Popis výsledku v původním jazyce

This article presents a measurement of the SEU bit-flip cross section of the X-CHIP-03 ASIC manufactured in a 180 nm PDSoI technology. The measurements were performed using a shift register in the X-CHIP-03 ASIC made with custom D flip-flops. The bit-flip cross sections and ASIC power consumption measurements were performed while irradiating the device with Ne, Ar and Xe ions, provided by the U400M isochronous cyclotron at the FLNR laboratory at JINR.

Název v anglickém jazyce

A study of single event effects induced by heavy charged particles in 180 nm SoI technology

Popis výsledku anglicky

This article presents a measurement of the SEU bit-flip cross section of the X-CHIP-03 ASIC manufactured in a 180 nm PDSoI technology. The measurements were performed using a shift register in the X-CHIP-03 ASIC made with custom D flip-flops. The bit-flip cross sections and ASIC power consumption measurements were performed while irradiating the device with Ne, Ar and Xe ions, provided by the U400M isochronous cyclotron at the FLNR laboratory at JINR.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

10301 - Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)

Projekt

<a href="/cs/project/EF16_013%2F0001569" target="_blank" >EF16_013/0001569: Brookhavenská národní laboratoř - účast České republiky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2018

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference Proceedings (NSS/MIC)

ISBN

978-1-5386-8494-8

ISSN

—

e-ISSN

2577-0829

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

Místo vydání

—

Místo konání akce

Sydney

Datum konání akce

10. 11. 2018

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—