Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F23%3A00367171" target="_blank" >RIV/68407700:21340/23:00367171 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1117/12.2647845" target="_blank" >https://doi.org/10.1117/12.2647845</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2647845" target="_blank" >10.1117/12.2647845</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A compact system for measuring laser-induced damage threshold (LIDT) was developed. As a source of linearly polarized 1064nm testing radiation, the special Q-switched microchip laser was used. This laser was based on monolith crystal composed of Nd:YAG active laser part and Cr:YAG saturable absorber. The laser generates 3.9 ns long pulses with an energy of 0.42mJ and repetition rate of 50 Hz. The LIDT measurement uses computer-controlled attenuator and sample 3D positioner. The system was designed to test transparent samples with a diameter of up to 25 mm. The system was tested for silica glass and YAG crystal. It is assumed that this system will be used for routine control of LIDT of dielectric layers on laser crystals and mirrors.

  • Název v anglickém jazyce

    Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement

  • Popis výsledku anglicky

    A compact system for measuring laser-induced damage threshold (LIDT) was developed. As a source of linearly polarized 1064nm testing radiation, the special Q-switched microchip laser was used. This laser was based on monolith crystal composed of Nd:YAG active laser part and Cr:YAG saturable absorber. The laser generates 3.9 ns long pulses with an energy of 0.42mJ and repetition rate of 50 Hz. The LIDT measurement uses computer-controlled attenuator and sample 3D positioner. The system was designed to test transparent samples with a diameter of up to 25 mm. The system was tested for silica glass and YAG crystal. It is assumed that this system will be used for routine control of LIDT of dielectric layers on laser crystals and mirrors.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/FW01010219" target="_blank" >FW01010219: Multikomponentní monokrystalické materiály pro laserové aplikace</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2023

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proc. SPIE 12399, Solid State Lasers XXXII: Technology and Devices

  • ISBN

    9781510659032

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

    1996-756X

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    SPIE

  • Místo vydání

    Bellingham (stát Washington)

  • Místo konání akce

    San Francisco, California

  • Datum konání akce

    28. 1. 2023

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku