Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F23%3A00367171" target="_blank" >RIV/68407700:21340/23:00367171 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1117/12.2647845" target="_blank" >https://doi.org/10.1117/12.2647845</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2647845" target="_blank" >10.1117/12.2647845</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement
Popis výsledku v původním jazyce
A compact system for measuring laser-induced damage threshold (LIDT) was developed. As a source of linearly polarized 1064nm testing radiation, the special Q-switched microchip laser was used. This laser was based on monolith crystal composed of Nd:YAG active laser part and Cr:YAG saturable absorber. The laser generates 3.9 ns long pulses with an energy of 0.42mJ and repetition rate of 50 Hz. The LIDT measurement uses computer-controlled attenuator and sample 3D positioner. The system was designed to test transparent samples with a diameter of up to 25 mm. The system was tested for silica glass and YAG crystal. It is assumed that this system will be used for routine control of LIDT of dielectric layers on laser crystals and mirrors.
Název v anglickém jazyce
Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement
Popis výsledku anglicky
A compact system for measuring laser-induced damage threshold (LIDT) was developed. As a source of linearly polarized 1064nm testing radiation, the special Q-switched microchip laser was used. This laser was based on monolith crystal composed of Nd:YAG active laser part and Cr:YAG saturable absorber. The laser generates 3.9 ns long pulses with an energy of 0.42mJ and repetition rate of 50 Hz. The LIDT measurement uses computer-controlled attenuator and sample 3D positioner. The system was designed to test transparent samples with a diameter of up to 25 mm. The system was tested for silica glass and YAG crystal. It is assumed that this system will be used for routine control of LIDT of dielectric layers on laser crystals and mirrors.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/FW01010219" target="_blank" >FW01010219: Multikomponentní monokrystalické materiály pro laserové aplikace</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2023
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proc. SPIE 12399, Solid State Lasers XXXII: Technology and Devices
ISBN
9781510659032
ISSN
0277-786X
e-ISSN
1996-756X
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham (stát Washington)
Místo konání akce
San Francisco, California
Datum konání akce
28. 1. 2023
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—