Pixelové detektory pro zobrazování s těžkými nabitými částicemi

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F08%3A10151881" target="_blank" >RIV/68407700:21670/08:10151881 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Pixel detectors for imaging with heavy charged particles

Popis výsledku v původním jazyce

State-of-the-art single quantum counting pixel detectors offer a large potential for different imaging applications. The TimePix pixel device can provide information about position and energy of the detected radiation allowing radiography with charged particles. Heavy charged particles of known initial energy lose their energy partially by going through a specimen material. If the resulting energies of particles passing the specimen are measured, then specimen structure can be revealed. This article shows experimental results of this technique acquired with alpha particles and the TimePix detector. The spatial resolution in detector plane depends on particle energy and can reach submicrometer level. The specimen thickness can be determined with precision up to 320 nm for organic materials if energy loss of individual alpha particle is measured.

Název v anglickém jazyce

Pixel detectors for imaging with heavy charged particles

Popis výsledku anglicky

State-of-the-art single quantum counting pixel detectors offer a large potential for different imaging applications. The TimePix pixel device can provide information about position and energy of the detected radiation allowing radiography with charged particles. Heavy charged particles of known initial energy lose their energy partially by going through a specimen material. If the resulting energies of particles passing the specimen are measured, then specimen structure can be revealed. This article shows experimental results of this technique acquired with alpha particles and the TimePix detector. The spatial resolution in detector plane depends on particle energy and can reach submicrometer level. The specimen thickness can be determined with precision up to 320 nm for organic materials if energy loss of individual alpha particle is measured.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LC06041" target="_blank" >LC06041: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A, Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

ISSN

0168-9002

e-ISSN

—

Svazek periodika

2008

Číslo periodika v rámci svazku

591

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000257529300037

EID výsledku v databázi Scopus

—